厂商：日本电子 JXA-iHP200F

主要参数： 

元素分析范围：4Be-92U

X射线取出角：40°

二次电子像分辨率：加速电压30kV&10pA时，≤2.5nm；加速电压10kV时，10nA~20nm； 100nA~50nm；

电子图像放大倍数：40×~300000×，连续可调

分析精度：主元素（含量>5%）优于1%；次要元素（含量~1%）优于1%       

主要用途： 

JXA-iHP200F场发射电子探针显微分析仪是由日本电子株式会社制造，该仪器配备了4道谱仪，全聚焦型晶体与半聚焦型晶体组合使用，可分析4Be至92U范围内的全部元素，特别考虑与腐蚀相关的O、S和Cl等元素，并具备点、线、面扫描分析功能，能够同时获得二次电子像、背散射电子像，搭载高分辨率EBSD探头，可同步实现微区内元素化学组成分析和物相分析。主要应用于材料科学、地球空间科学、矿物等资源能源研究，以及钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域。