序号 |
设备名称 |
规格型号 |
服务内容 |
1 |
扫描探针显微镜+手套箱 |
Bruker Dimension Icon |
微观结构与各种特性,包含形貌、表面电势、电流、电阻、载流子浓度、静电力、磁力、热分布、峰值力等。惰性气体环境下,可测试水氧敏感样品 |
2 |
电致光致发光一体化检测系统 |
艾盛 |
对太阳电池制备进行全流程监控,材料与器件缺陷分布 |
3 |
少数载流子寿命测试仪 |
Sinton Suns-Voc |
太阳电池与材料的少数载流子寿命 |
4 |
太阳电池电流-电压特性 |
Abet 11048、Wacom WXS-90S-L2 |
单结与多结太阳电池效率、开路电压、短路电流、填充因子、稳态功率 |
5 |
太阳电池量子效率特性 |
CEP-25ML |
太阳电池的内量子效率、外量子效率 |
6 |
半导体器件参数测试仪 |
Keysight 4200 |
半导体器件的电容-电压/电流-电压特性分析,晶圆级可靠性封装器件特性分析 |
7 |
光学显微镜 |
MFA3017D三丰 |
面积的测量与界定 |
8 |
X射线断层扫描显微镜 |
Zeiss Versa 610 |
无损探测材料结构缺陷 |
9 |
电化学CV测试系统 |
Buchanan CVP21 |
半导体材料的掺杂浓度分布 |
10 |
四探针测试仪 |
Napson Cresbox |
测试硅晶片及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、金属薄膜等材料的电阻率和方块电阻 |
11 |
加速老化测试仪 |
Hirayama PC-422R8 |
半导体材料与器件的加速老化 |
12 |
研磨抛光机 |
川禾 Smoothneer-6 |
研磨抛光到纳米级别平整度 |
13 |
其它 |
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探索性测试、失效分析、非常规样品制备 |